公司新闻
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高压脉冲测试能够检测多种问题，具体如下： 电气设备绝缘性能问题 绝缘击穿：通过施加高压脉冲，检测电气设备绝缘材料在高电压下的击穿电压值，判断绝缘材料是否符合安全标准。 绝缘老化：模拟长期运行中的老化效应，通过周期性高压脉冲测试，加速绝缘材料老化过程，提前发现潜在的老化问题。 电子器件动态特性问题 开关特性：利用高压脉冲的快速上升沿和下降沿，测试半导体器件的开关速度、开通与关断延迟时间等参数。 传输特性：通过不同脉冲宽度和重复频率的测试，评估半导体器件在不同工作状态下的电学性能。 电磁兼容性问题 抗干扰能力：模拟实际运行中的电磁干扰环境，如雷电、开关操作等，评估电子设备在高压脉冲干扰下的抗干扰能力。 电磁辐射：检测设备在高压脉冲作用下是否会产生过量的电磁辐射。 保护器件性能问题 响应速度：测试保护器件（如气体放电管、TVS二极管等）在高压脉冲下的响应速度，确保其能够在瞬间启动保护。 保护效果：验证保护器件是否能够有效抑制高压脉冲对电路的损害。 电路稳定性问题 功能故障：评估电子设备在高压脉冲干扰下是否会出现功能故障，如误操作、数据丢失等。 热稳定性：通过长脉冲测试，评估功率器件在高压脉冲作用下的散热性能和热稳定性。 半导体材料性能问题 介电常数：利用脉冲电场激励材料内部电荷运动，通过检测响应电流或电压信号，计算半导体材料的介电常数。 电阻率：通过高压脉冲测试，更准确地获取半导体材料的电阻率，避免传统直流测试方法中的电荷积累和极化问题。
